OBR 5T-50采用扫描波长干涉技术来测量背向瑞利散射光信号与长度的关系。
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OBR 5T-50可以測試被動光元件和模組(光子整合元件、光纖、連接頭、光開關、耦合器等)的插損和回損,以及光纖的長度。
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